Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計

Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計

結(jié)構(gòu)組成：

射頻導納物位計主要由檢測部分和變送部分組成，檢測部分包括探頭、保護套外殼等；變送部分包括振蕩緩沖電路、頻率變換及掛料處理電路、誤差修正放大器、信號解調(diào)器、調(diào)制驅(qū)動放大器、濾波阻尼環(huán)節(jié)、電壓限制及電壓電流轉(zhuǎn)換電路等。根據(jù)電橋原理，由于液位升高而加大的電容使電橋失去平衡，同時正比于電橋不平衡度的解調(diào)器輸出電壓，經(jīng)濾波放大、輸出阻尼、電壓/電流轉(zhuǎn)換后，輸出與物位成正比的4-20mA電流信號。無論是射頻電容物位計或射頻導納物位計都能準確測量介質(zhì)的物位，但與普通射頻電容物位計相比，射頻導納物位計更適合測量料位，因為它可以較好地處理掛料對料位測量的影響。

測量原理：

射頻導納是一種從電容式發(fā)展起來的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控制技術(shù)，是電容式物位技術(shù)的升級。所謂射頻導納，導納的含義為電學中阻抗的倒數(shù)，它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，而射頻即高頻無線電波譜，所以射頻導納可以理解為用高頻無線電波測量導納。儀表工作時，儀表的傳感器與灌壁及被測介質(zhì)形成導納值，物位變化時，導納值相應變化，電路單元將測量導納值轉(zhuǎn)換成物位信號輸出，實現(xiàn)物位測量。

對于連續(xù)測量，射頻導納技術(shù)與傳統(tǒng)電容技術(shù)的區(qū)別除了上述講過的以外，還增加了兩個很重要的電路，這是根據(jù)導電掛料實踐中的一個很重要的發(fā)現(xiàn)改進而成的。上述技術(shù)在這時同樣解決了連接電纜問題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。鎖增加的兩個電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅(qū)動器。

對一個強導電性被測介質(zhì)的容器，由于被測介質(zhì)是導電的，接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器來說僅表現(xiàn)為一個純電容。隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，從而引起兩個問題。

*個問題是液位本身對探頭相當于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。

另一個問題是對于導電被測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質(zhì)及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是*導電的。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個交流驅(qū)動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻，從而排除掛料的影響。

這些，多參量的測量，是須得基礎(chǔ)，交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術(shù)，使得射頻導納技術(shù)在現(xiàn)場應用中展現(xiàn)出非凡的生命力。

Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計

湖北開航公司部分產(chǎn)品：

射頻導納料位計Z4-3002-766

Z4-3002-764
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Z4-3002-758
Z4-3002-757
Z4-3002-756
Z4-3002-755
Z4-3002-754
Z4-3002-701
Z4-3002-327
Z4-3002-301